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锂电产品质量,谁来保驾护航---安捷伦

提供者:上海斯迈欧分析仪器有限公司   发布时间:2020/3/12  阅读次数:36次   进入该公司展台

 捷伦科技作为分析技术领域开拓者,在锂离子电池原材料检测领域积累了大量经验和数据。明星产品 Agilent 5110 电感耦合等离子体发射光谱仪 (ICP-OES),具有卓越的系统稳定性,能够轻松应对复杂基体样品的分析,是锂离子电池中元素快速分析的理想仪器

5110 ICP-OES 在锂离子电池材料分析过程中到底能解决哪些问题?让我们先睹为快!

高 Li 基体中微量 Na、K 测试因电离干扰无法获得准确结果?

Agilent 5110 ICP-OES 独特的冷锥接口(CCI)设计(如图1),能将等离子体中温度较低的外焰成功剥离开,极大地消除易电离元素的干扰。即便对于 Li 基体中极难测的 K、Na 元素,5110 ICP-OES 依然可测得准确稳定的结果:加标浓度为 0.05 mg/L 时,碳酸锂中 14 个杂质元素的回收率在 95~105% 之间,连续测试 2.5 小时,各元素 RSD 小于 2%。



图 1. 5110 ICP-OES 冷锥接口(CCI)设计




图 2. Li 基体中 Na、K 元素的标准曲线(0.005、0.01、0.02、0.05、0.1、0.2 mg/L)

                                   

三元材料中主量元素的分析结果不稳定?

“长期稳定性”是衡量 ICP-OES 仪器系统稳定可靠程度的重要指标,也是锂离子电池用户选择 ICP-OES 时重点关注的性能。“复杂基体长期稳定”一直是安捷伦 ICP-OES 标志性的特点。在利用 5110 ICP-OES 测试三元材料中 Ni、Co、Mn 时,可得到优异的长期稳定性结果:2.5 小时连续测试,各元素 RSD 小于 1.0%。





图 3. Ni、Co、Mn 的标准曲线(50、100、200、500、900mg/L)

                               

六氟磷酸锂电解液有机进样,背景信号严重干扰微量元素?

通过使用安捷伦的快速自动曲线拟合技术(FACT),可利用数学拟合技术,对复杂的背景结构快速建模,准确地测定分析物信号。如图 4 所示,20% 乙醇溶液稀释后的六氟磷酸锂样品,原始谱图中,As 受到严重的结构背景干扰,无法准确测试;而利用 FACT 技术进行背景校正后,As 信号从复杂的有机物背景干扰中成功剥离出来,得到了准确可靠的结果。



图 4. 采用 FACT 技术扣除背景后的谱图

                                                

工欲善其事,必先利其器, 5110 ICP-OES 作为锂离子电池材料的分析利器,对于三元正极材料、碳酸锂、石墨类负极材料、六氟磷酸锂电解液的检测具有很好的测试性能,垂直炬管结合 CCI 冷锥的设计保证了仪器具有更好的耐受能力和长期稳定性。从此锂电产品的质量,由 5110 来保驾护航!

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