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方阻计@FT-336型薄膜方阻测试仪作业技术指标

提供者:宁波瑞柯伟业仪器有限公司   发布时间:2020/6/23  阅读次数:136次   进入该公司展台

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一、方阻计@FT-336型薄膜方阻测试仪概述:
方阻计@FT-336型薄膜方阻测试仪仪
按照硅片电阻率测量的注册送体验金无需申请标准(ASTM F84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口,本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确。

二、方阻计@FT-336型薄膜方阻测试仪适用范围:
方阻计@FT-336型薄膜方阻测试仪
采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片注册免费送体验金平台,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表。

三、方阻计@FT-336型薄膜方阻测试仪产品特点:
方阻计@FT-336型薄膜方阻测试仪
采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。
 


四、方阻计@FT-336型薄膜方阻测试仪参数资料:
1、方块电阻范围:10-2~2×103Ω/□
2、电阻率范围:10-3~2×104Ω-cm
3、测试电流范围:1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA
4、电流精度:±0.3%读数
5、电阻精度:≤0.5%
6、显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
7、测试方式: 普通单电测量
8、工作电源:输入: AC 220V±10% ,50Hz  功耗:<30W
9、整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)
10、选购功能: 
(1)选购1.pc软件;
(2)选购2.方形探头; 
(3)选购3.直线形探头; 
(4)选购4.测试平台
11、测试探头:   
(1)探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 
(2)探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针

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